北京冠测精电仪器设备有限公司

DTA差热分析仪

（氧化诱导期分析仪）
一、功能和用途：
　　　　DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间

的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结

晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

三、仪器配置 ：
1. GCDZ 差热分析仪            一台  
2.气体流量计 、 气体转换装置  一台
3.电源线                      一根
4.数据线                      两根
5.实验软件光盘                一张
6.样品勺                      一只
7.镊子                        一只
8.气路皮管（安装到位）
9.陶瓷坩锅、铝坩埚            200只
10. 合格证、保修卡、说明书    各一份
11.品牌电脑           一台
12.打印机             一台  

注明：请贵公司需要配置：氮气瓶、氧气瓶以及配套的减压表

塑料管材系列*检测仪器
差热分析仪
尺寸变化率测定仪
马弗炉
塑料管材静液压爆破试验机
炭黑含量测试仪
硬质管弯曲试验机

联系人：*彦
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二、技术指标：
DTA GCDZ3320A
温度范围 室温~1150℃
量程范围 0～±2000μV
DTA精度 ±0.1μV
升温速率 1～60℃/min
数据接口 RS-232串口通讯     配套数据线和操作软件
主机显示 汉字大屏液晶显示  蓝底白字
参数标准 配有标准物：用户可自行对温度进行校正
 基线调整  ：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源 AC 220V   50Hz
*合标准： GB/T17391-1998
温度分辨率 0.1℃
温度准确度 ±0.1℃
温度重复性 ±0.1℃

温度控制 升温：程序控制        可根据需要进行参数的调整
 降温：风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
 恒温：程序控制        恒温时间任意设定
炉体结构 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
气氛控制 气体流量计，气氛转换装置